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JK2818自動元件分析儀
簡要描述：JK2818自動元件分析儀JK2818高頻自動元件分析儀其0.1%的基本精度、20Hz～1MHz的頻率范圍可以滿足元件與材料絕大部分低壓參數(shù)的測量要求，可廣泛應用于諸如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變容二極管、變壓器等進行諸多電氣性能的分析及低ESR電容器和高Q電感器的測量。
產(chǎn)品型號：- 廠商性質：生產(chǎn)廠家
- 更新時間：2020-03-28
- 訪 問 量：684
產(chǎn)品介紹
JK2818自動元件分析儀
測試電平10mV～2V,10mv步進
高達80次/s的測量速度
六位讀數(shù)分辨率
內部自帶直流偏置源
圖形掃描分析功能
內建比較器,10檔分選及計數(shù)功能
測試頻率20Hz～1MH*有8600個以上的測試頻率
基本準確度0.1%
320×240點陣大型圖形LCD顯示
10點列表掃描測試功能
外置偏流源至40A(配置兩臺JK1775)
V、I測試信號電平監(jiān)視功能
20組內部儀器設定可供儲存/讀取
多種通訊接口方便用戶聯(lián)機使用
全英文操作界面
JK2818自動元件分析儀
簡要說明:
JK2818高頻自動元件分析儀其0.1%的基本精度、20Hz～1MHz的頻率范圍可以滿足元件與材料絕大部分低壓參數(shù)的測量要求，可廣泛應用于諸如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變容二極管、變壓器等進行諸多電氣性能的分析及低ESR電容器和高Q電感器的測量。
JK2818高頻自動元件分析儀產(chǎn)品超高速的測試速度使其特別適用于自動生產(chǎn)線的點檢機，壓電器件的頻率響應曲線分析等等。其多種輸出阻抗模式可以適應各個電感變壓器廠家的不同標準需求。JK2818型產(chǎn)品以其的性能可以實現(xiàn)商業(yè)標準和標準如IEC和MIL標準的各種測試。
技術規(guī)格:
LCR測量參數(shù) | C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR | ||||||||||||||||||||
測試頻率 | 20 Hz～1MHz,10mHz步進 | ||||||||||||||||||||
測試電平范圍 | f ≤ 1MHz | ||||||||||||||||||||
輸出阻抗 | 25Ω 50Ω, 100Ω | ||||||||||||||||||||
基本準確度 | 0.1% | ||||||||||||||||||||
測量速度或測試時間 | 快速:80次/s（f﹥30KHz）,100次/s（f﹥1KHz） | ||||||||||||||||||||
等效電路 | 串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式 | ||||||||||||||||||||
量程方式 | 自動, 保持 | ||||||||||||||||||||
觸發(fā)方式 | 內部, 手動, 外部，總線 | ||||||||||||||||||||
平均次數(shù) | 1-80 | ||||||||||||||||||||
清零功能 | 開路 / 短路掃頻清零 ，負載校準 | ||||||||||||||||||||
內部直流偏置源 | 電壓模式:-5V ～ +5V, ±（10%+10mV）, 1mV步進, 電流模式（內阻為50Ω）:-100mA ～ +100mA, | ||||||||||||||||||||
比較器功能 | 十檔：（九檔合格，一檔不合格），另有一個附屬檔 | ||||||||||||||||||||
存儲器 | 可保存20組儀器設定值 | ||||||||||||||||||||
接口 | RS232C，HANDLER， | ||||||||||||||||||||
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列表掃描 | 10點列表掃描 | ||||||||||||||||||||
顯示器 | 320×240點陣大型圖形LCD | ||||||||||||||||||||
測試端 | 5端法 | ||||||||||||||||||||
顯示方式 | 直讀, ΔABS, Δ%, V/I(電壓/電流監(jiān)示) , 檔號及檔計數(shù) |
列表掃描功能
簡要介紹:
JK2818高頻自動元件分析儀是采用當前zuixianjin的自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器，其0.05%/0.1%的基本精度、20Hz—1MHz的頻率范圍及高達100 MΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的一切測量要求，
特別有利于測量低D電容器和高Q電感器的測量。其支持20V交流測試信號和40A直流偏置的高功率測試條件及列表
掃描功能將有利于用戶擴展元件評價的能力。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴展了十倍。
JK2818高頻自動元件分析儀是電子元件設計、檢驗、質量控制和生產(chǎn)測試的強有力工具。它的優(yōu)良性能和功能為電路的設計和開發(fā)以及材料（電子材料和非電子材料）的研究和開發(fā)提供了強有力的工具。計算機通訊及測試過程記錄提供了條件。
廣泛的測量對象：
無源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡元件等的阻抗參數(shù)測量。
半導體元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡元件等的阻抗參數(shù)測量。
其它元件：印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估。
介質材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)的損耗角評估。
磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估。
半導體材料：半導體材料的介電常數(shù),導電率和C-V特性。
液晶材料：液晶單元的介電子常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性。
多種元件、材料特性測量能力
揭示電感器件的多種特性
JK2818高頻自動元件分析儀的性能和20Hz-1 MHz的測試頻寬可以地分析磁性材料、電感器件的性能。使用JK10301選件的100mA DC的偏置電流可以測量高頻電感器件、通訊變壓器，濾波器的小電流疊加性能。使用JK1775電流疊加裝置，可使偏置電流達40A以分析高功率、大電流電感器件。
的陶瓷電容測量
1kHz和1MHz是陶瓷材料和電容器的主要測試頻率。陶瓷電容器具有低損耗值的特征，同時其容量、損耗施加之交流信號會產(chǎn)生明顯的變化。儀器具有寬頻測試能力并可提供良好的準確度，六位分辨率和自動電平控制（ALC）功能等，中以滿足陶瓷材料和電容器可靠、準確的測試需要。
液晶單元的電容特性測量
電容－電壓（C－Vac)特性是評價液晶材料性能的主要方法，常規(guī)儀器測量液晶單元的C－Vac特性遇到一個問題是大測試電壓不夠。使用JK10301選件可提供分辨率為1%及高達20Vms的可編程測試信號電平，使它能在佳條件下進行液晶材料的電容特性測量。
半導體材料和元件的測量
進行MOS型半導體制造工藝評價時，需要氧化層電容和襯底雜質密度這些參數(shù)，這些可從C－Vdc特性的測量結果推導出來。
20HZ－1MHz的測量頻寬及高達40VDC的可編程偏置電壓方可方便地完成C-VDC特性的測量。
為了測試晶圓上的半導體器件，需要延伸電纜和探頭，儀器的2m/4m延伸電纜選件可將電纜延伸的誤差降至小。各種二極管、三機管、MOS管的分布電竄也是本儀器的測試內容。
適應多種領域的測試需要 提高生產(chǎn)效率
JK2818高頻自動元件分析儀 30次/秒的測試速度可滿足大多數(shù)生產(chǎn)場合高效測試的需要，從而提高生產(chǎn)廠的產(chǎn)能。內建比較器、電纜長度補償、Handler接口可方便地用于自動測試系統(tǒng)。
應用廣泛的品質檢驗手段
儀器具備的20Hz-1MHz的頻寬及5mVms-20ms的信號電平范圍可滿足絕大多數(shù)元件的檢測需要。
JK10301及JK1775的配置解決了器件直流偏置測量的要求。提供徑向、軸向、SMD元件的多種測試夾具配置。
用戶友好的操作界面簡化的前面板操作
儀器配置的320x240點陣的LCD顯示器使操作者可清晰地觀察測量結果，各種設定狀態(tài)一目了然，交互式軟鍵大大簡化了儀器操作。
非易失性存儲器以保存多種儀器設置
JK2818高頻自動元件分析儀提供有內部非易失性存儲器可保存20組儀器測量設置，
靈活的數(shù)據(jù)通訊方式
JK2818高頻自動元件分析儀為多機通訊并組成自動測試系統(tǒng)提供了可能，同時，
儀器還提供了低成本的RS232C串行通訊方式以方便地與計算機進行遠程通訊。
比較器功能 | |||
比較器 | 測量的參數(shù)值可以分選為10檔 | ||
計數(shù)值 | 0 — 999999 | ||
列表掃描比較 | 掃描列表中的每個點都可以輸出HIGH/IN/LOW信號 | ||
輸入保護 | |||
當充電的電容連上測試端時，內部保護電路工作。 大可以保護的電容電壓可以由下式推出： | |||
其他功能 | |||
存儲功能 | 外部非易失存儲器可以保存20個儀器的設置文件 | ||
RS232C | 所有的儀器控制參數(shù)，測量值，比較值和掃描列表都可以通過RS232C實現(xiàn)多機通訊或對PC通訊。 | ||
選件 | |||
JK10301 | 功率放大/直流偏置 增加交流信號到 20Vrms / 0.2Arms. 擴展直流偏置范圍到 ±40V DC. | ||
JK10401 | 2m / 4m 測試線選件 擴展測試線的長度，增加2m或4m。 | ||
JK10202 | Handler 接口 輸入的9對上下限值可以分選10檔的L、C或|Z|值。 | ||
準確度（細節(jié)請查看操作手冊） | |||
測試環(huán)境 | 熱機時間 | ≥30 分鐘 | |
環(huán)境溫度 | 23±5ºC | ||
測試信號電平 | 0.3Vrms – 1Vrms | ||
清零 | 開路 和 短路 | ||
測試線長度 | 0 m | ||
|Z|, |Y|, L, C, R, X, G, B | ±[A+(Ka+Kb+Kc)×100] (% of reading) | ||
D | ±[Ae/100] (D的值) | ||
Q (When Qx×De<0.1) |
當, Qx 符合 Qvalue時 De 是 D 的度 | ||
θ | DEG | ±[Ae/100] (degress 值) | |
RAD | ±[(180/π)×(Ae/100)] (degress 值) | ||
工作溫度, 濕度 | 0℃ — 40℃, ≤90% RH |
電源要求 | 198 V — 242 V AC,99 V-121 V AC 47.5 Hz — 63 Hz |
功耗 | ≤100 VA |
尺寸(W×H×D) | 430 mm×185 mm×300 mm |
重量 | 8.5 kg Approx |
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